聚合物膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理
聚合物膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理主要是基于磁通量的變化來(lái)測(cè)定聚合物膜的厚度。當(dāng)測(cè)頭接近聚合物膜表面時(shí),會(huì)產(chǎn)生一個(gè)磁通,這個(gè)磁通會(huì)經(jīng)過非鐵磁覆層(即聚合物膜)流入鐵磁基體。聚合物膜的厚度會(huì)影響磁通的大小和分.. 全文
二氧化硅膜厚儀的原理是什么?
二氧化硅膜厚儀的原理主要基于光學(xué)干涉現(xiàn)象。當(dāng)單色光垂直照射到二氧化硅膜層表面時(shí),光波會(huì)在膜的表面以及膜與基底的界面處發(fā)生反射。這些反射光波之間會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象,即光波疊加時(shí),其強(qiáng)度會(huì)增強(qiáng)或減弱,取決于光.. 全文
請(qǐng)問:汽車鏡反射率檢測(cè)儀廠家要怎么合作?
一個(gè)好的汽車鏡反射率檢測(cè)儀廠家,需要有責(zé)任心,對(duì)產(chǎn)品的品質(zhì)要求嚴(yán)格,一絲不茍,產(chǎn)品的品質(zhì)是對(duì)客戶很大的尊重與負(fù)責(zé)。 全文
光學(xué)干涉膜厚測(cè)試儀是使用哪種測(cè)量原理?
光學(xué)干涉膜厚測(cè)試儀的測(cè)量原理主要基于光學(xué)干涉現(xiàn)象。當(dāng)光線照射到薄膜表面時(shí),一部分光線被反射,另一部分則穿透薄膜并在內(nèi)部經(jīng)過多次反射和透射。這些反射和透射的光線在薄膜的上下表面之間形成干涉,產(chǎn)生特定的干.. 全文
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