二氧化硅膜厚儀的測量原理是?
二氧化硅膜厚儀的測量原理主要基于光的干涉現(xiàn)象。當(dāng)單色光垂直照射到二氧化硅膜層表面時,光會在膜層表面和膜層與基底的界面處發(fā)生反射。這兩束反射光在返回的過程中會發(fā)生干涉,即相互疊加,產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋.. 全文
透射率檢測系統(tǒng)如何用?哪位大神能告訴我?
在使用透射率檢測系統(tǒng)時,測小樣及液體樣品時,須先將樣品架于接收設(shè)備左側(cè)(擰上二只螺釘即可)。 全文
幫忙一下,怎么選擇熒光量子檢測系統(tǒng)廠家呢?求解答
一個好的熒光量子檢測系統(tǒng)廠家必須有一定的規(guī)模,有自己的生產(chǎn)工廠,有自己的技術(shù)團(tuán)隊(duì),而市場上的小作坊就不能被稱為廠家。因?yàn)樾∽鞣粵]有很大的保障,也沒有技術(shù)專員。 全文
反射率檢測儀具有哪方面的特點(diǎn)? 知道的請回答
反射率檢測儀可以作為光學(xué)元件反射率檢測,太陽能硅片反射率檢測,織物測量。 全文